類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202120241227.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN214749855U | 公開（公告）日 | 2021-11-16 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN214749855U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-11-16 |
| 分類號(hào) | G01N21/95（2006.01）I;G01N21/94（2006.01）I;G01N21/88（2006.01）I;G01N21/41（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 曹文;羅華東;周永;吳昊;季松林 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 江蘇驃馬智能工業(yè)設(shè)計(jì)研究有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 常州品益專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 喬楠 |
| 地址 | 213000江蘇省常州市新北區(qū)漢江西路999號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型涉及一種類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置，包括光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，工控機(jī)，觸發(fā)控制器，運(yùn)動(dòng)控制器，三軸伺服模組，所述工控機(jī)與運(yùn)動(dòng)控制器連通，所述三軸伺服模組在所述工控機(jī)和運(yùn)動(dòng)控制器的作用下可驅(qū)動(dòng)所述光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)掃描被檢測(cè)物體，所述觸發(fā)控制器可分別與所述三軸伺服模組和所述光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)連通，所述光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)與所述工控機(jī)連通，所述光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)用于采集、分析類鏡面物體的表面數(shù)據(jù)，包括線陣相機(jī)、LED條紋光源、若干個(gè)漫反射光源、Y向測(cè)距與色差檢測(cè)組件和X向測(cè)距組件，該類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置，采集效率高、成像質(zhì)量高、系統(tǒng)結(jié)構(gòu)緊湊、成本低。 |
