類鏡面物體的缺陷檢測裝置及其檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110117450.9 申請日 -
公開（公告）號 CN112798617A 公開（公告）日 2021-05-14
申請公布號 CN112798617A 申請公布日 2021-05-14
分類號 G01N21/95;G01N21/94;G01N21/88;G01N21/41 分類 測量；測試;
發(fā)明人 曹文;羅華東;周永;吳昊;季松林 申請（專利權(quán)）人 江蘇驃馬智能工業(yè)設(shè)計研究有限公司
代理機(jī)構(gòu) 常州品益專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 喬楠
地址 213000 江蘇省常州市新北區(qū)漢江西路999號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種類鏡面物體的缺陷檢測裝置及其檢測方法，包括光學(xué)檢測系統(tǒng)，工控機(jī)，觸發(fā)控制器，運(yùn)動控制器，三軸伺服模組，所述工控機(jī)與運(yùn)動控制器連通，所述三軸伺服模組在所述工控機(jī)和運(yùn)動控制器的作用下可驅(qū)動所述光學(xué)檢測系統(tǒng)掃描被檢測物體，所述觸發(fā)控制器可分別與所述三軸伺服模組和所述光學(xué)檢測系統(tǒng)連通，所述光學(xué)檢測系統(tǒng)與所述工控機(jī)連通，所述光學(xué)檢測系統(tǒng)用于采集、分析類鏡面物體的表面數(shù)據(jù)，包括線陣相機(jī)、LED條紋光源、若干個漫反射光源、Y向測距與色差檢測組件和X向測距組件，該類鏡面物體的缺陷檢測裝置及其檢測方法，采集效率高、成像質(zhì)量高、系統(tǒng)結(jié)構(gòu)緊湊、成本低。