半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的形成方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111494129.9 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN114203718A 公開(公告)日 2022-03-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN114203718A 申請(qǐng)公布日 2022-03-18
分類號(hào) H01L27/11568(2017.01)I;H01L27/1157(2017.01)I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 胡君;錢文生;張可鋼;王寧 申請(qǐng)(專利權(quán))人 上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 唐嘉
地址 201203上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)祖沖之路1399號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的形成方法,包括:提供襯底,所述襯底包括:器件區(qū);在所述襯底內(nèi)形成第一阱;在形成所述第一阱之后,在所述器件區(qū)上形成選擇柵極以及位于所述選擇柵極兩側(cè)的存儲(chǔ)柵極;在形成所述選擇柵極和存儲(chǔ)柵極之后,在所述選擇柵極和存儲(chǔ)柵極兩側(cè)的所述襯底內(nèi)形成第二阱,且部分所述第二阱還位于所述存儲(chǔ)柵極底部??梢詼p少一次光刻,且避免對(duì)選擇柵極溝道直接注入,從而提高器件性能。