基于同顆芯片的ADC測試電路

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023305325.0 申請日 -
公開（公告）號 CN214097709U 公開（公告）日 2021-08-31
申請公布號 CN214097709U 申請公布日 2021-08-31
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李寧;徐建華 申請（專利權(quán)）人 宜賓芯匯信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司 代理人 陳忠輝
地址 644000四川省宜賓市翠屏區(qū)智能終端產(chǎn)業(yè)園A區(qū)1棟4樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型揭示了一種基于同顆芯片的ADC測試電路，其特征在于：基于芯片內(nèi)ADC模塊、DAC模塊及模塊間的邏輯操控回路相接構(gòu)成，其中邏輯操控回路為包含電阻R1~電阻Rn的串聯(lián)電路，其中n的取值對應(yīng)大于ADC模塊的通道數(shù)量，DAC模塊的兩條通道接入邏輯操控回路，任意兩相鄰電阻間的節(jié)點(diǎn)分路接入ADC模塊的全部通道引腳。該DAC模塊根據(jù)ADC模塊采樣頻率周期性切換對應(yīng)邏輯操控回路的電壓輸入。應(yīng)用實(shí)用新型該測試電路，通過使用較少的DAC通道來給ADC模塊所有通道提供不斷變化的電壓輸入，易于跟隨ADC模塊的采樣頻率而受控靈活、規(guī)律性變化，滿足了ADC測試對輸入信號的要求，從而也一定程度上降低了測試成本。