碲鎘汞材料離子注入P-N結(jié)產(chǎn)生損傷的修復(fù)方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN03116408.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN1442886A | 公開(公告)日 | 2003-09-17 |
申請公布號 | CN1442886A | 申請公布日 | 2003-09-17 |
分類號 | H01L21/265 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 陸衛(wèi);陳貴賓;蔡煒穎;陳效雙;李志鋒;李寧;季亞林;胡曉寧;何力 | 申請(專利權(quán))人 | 上海尼賽拉電子元件有限公司 |
代理機構(gòu) | 上海智信專利代理有限公司 | 代理人 | 郭英 |
地址 | 200083上海市玉田路500號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種碲鎘汞材料在離子注入形成P-N結(jié)過程中對材料產(chǎn)生損傷的修復(fù)方法。該方法只需在常規(guī)的碲鎘汞材料離子注入形成P-N結(jié)的工藝后再用較小劑量、較低束流密度的離子再次注入該區(qū)。再注入的離子可以起到非平衡動態(tài)后處理的作用,使注入離子形成的P-N結(jié)性能有較明顯改善,從而提高了光伏型紅外探測器的性能。 |
