基于GAYOLOv3_Tiny電子元器件表面缺陷檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210354415.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114677355A 公開（公告）日 2022-06-28
申請公布號 CN114677355A 申請公布日 2022-06-28
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06T1/20（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06V10/82（2022.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 楊艷;耿濤;謝金博;王業(yè)琴;莊昊;王舉 申請（專利權(quán)）人 淮陰工學院
代理機構(gòu) 淮安市科文知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 代理人 -
地址 223400江蘇省淮安市漣水縣海安路10號安東大廈8樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及視覺檢測技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種基于GAYOLOv3_Tiny電子元器件表面缺陷檢測方法，包括：獲取電子元器件表面缺陷圖像；對圖像分組，將其分為兩條獨立分支，對前n組、后m組分別使用不同的卷積核進行卷積，并將得到的圖像模塊輸入到通道注意力模塊和空間注意力模塊中，分別生成通道注意力權(quán)重特征圖和空間注意力權(quán)重特征圖；最終得到同時具有通道權(quán)重和空間權(quán)重的特征圖，再分別將前n組、后m組得到的特征圖拼接，最終將兩條獨立分支得到的特征圖傳輸至檢測器中；使用NMS算法從中做出最優(yōu)選擇。與現(xiàn)有技術(shù)相比，解決了當前人工抽檢的低效與人工抽檢的不穩(wěn)定性的問題，并且降低了芯片使用要求，為工業(yè)生產(chǎn)降低成本變得可能。