一種CL系統(tǒng)的掃描裝置及方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201410555446.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN105510361A | 公開(公告)日 | 2016-04-20 |
申請公布號 | CN105510361A | 申請公布日 | 2016-04-20 |
分類號 | G01N23/04(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 邵雨濛;魏龍;魏存峰;王燕芳;闕介民;劉寶東;王雅霄;袁路路;周俊光;孟凡輝 | 申請(專利權(quán))人 | 銳影檢測科技(濟(jì)南)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京律智知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 中國科學(xué)院高能物理研究所 |
地址 | 100049 北京市石景山區(qū)玉泉路19號乙多學(xué)科大樓1113 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種CL系統(tǒng)的掃描裝置及方法。所述掃描裝置包括:支架、機(jī)械臂、X射線源、探測器、承載架、載物臺;所述機(jī)械臂通過樞接軸與所述支架樞接,所述X射線源和所述探測器分別安裝于所述機(jī)械臂的第一、第二安裝座;所述承載架固定安裝于所述支架上,所述載物臺安裝于所述承載架上,所述載物臺上具有樣本固定位置,所述承載架及所述載物臺位于所述機(jī)械臂的第一安裝座和第二安裝座之間;相對于所述支架,所述機(jī)械臂能定位于多個角度上,且所述X射線源與所述探測器及承載架保持對齊,掃描時所述機(jī)械臂擺動可以實現(xiàn)多種模式下的檢測方式。 |
