一種CL系統(tǒng)的掃描裝置及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201410555446.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN105510361B 公開（公告）日 2019-01-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN105510361B 申請(qǐng)公布日 2019-01-15
分類號(hào) G01N23/046（2018.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 邵雨濛; 魏龍; 魏存峰; 王燕芳; 闕介民; 劉寶東; 王雅霄; 袁路路; 周俊光; 孟凡輝 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 銳影檢測(cè)科技（濟(jì)南）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京律智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 中國科學(xué)院高能物理研究所
地址 100049 北京市石景山區(qū)玉泉路19號(hào)乙多學(xué)科大樓1113
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種CL系統(tǒng)的掃描裝置及方法。所述掃描裝置包括：支架、機(jī)械臂、X射線源、探測(cè)器、承載架、載物臺(tái)；所述機(jī)械臂通過樞接軸與所述支架樞接，所述X射線源和所述探測(cè)器分別安裝于所述機(jī)械臂的第一、第二安裝座；所述承載架固定安裝于所述支架上，所述載物臺(tái)安裝于所述承載架上，所述載物臺(tái)上具有樣本固定位置，所述承載架及所述載物臺(tái)位于所述機(jī)械臂的第一安裝座和第二安裝座之間；相對(duì)于所述支架，所述機(jī)械臂能定位于多個(gè)角度上，且所述X射線源與所述探測(cè)器及承載架保持對(duì)齊，掃描時(shí)所述機(jī)械臂擺動(dòng)可以實(shí)現(xiàn)多種模式下的檢測(cè)方式。