一種CL系統(tǒng)的掃描裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410555446.0 申請日 -
公開（公告）號 CN105510361B 公開（公告）日 2019-01-15
申請公布號 CN105510361B 申請公布日 2019-01-15
分類號 G01N23/046（2018.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 邵雨濛; 魏龍; 魏存峰; 王燕芳; 闕介民; 劉寶東; 王雅霄; 袁路路; 周俊光; 孟凡輝 申請（專利權(quán)）人 銳影檢測科技（濟(jì)南）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京律智知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 中國科學(xué)院高能物理研究所
地址 100049 北京市石景山區(qū)玉泉路19號乙多學(xué)科大樓1113
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種CL系統(tǒng)的掃描裝置及方法。所述掃描裝置包括：支架、機(jī)械臂、X射線源、探測器、承載架、載物臺；所述機(jī)械臂通過樞接軸與所述支架樞接，所述X射線源和所述探測器分別安裝于所述機(jī)械臂的第一、第二安裝座；所述承載架固定安裝于所述支架上，所述載物臺安裝于所述承載架上，所述載物臺上具有樣本固定位置，所述承載架及所述載物臺位于所述機(jī)械臂的第一安裝座和第二安裝座之間；相對于所述支架，所述機(jī)械臂能定位于多個(gè)角度上，且所述X射線源與所述探測器及承載架保持對齊，掃描時(shí)所述機(jī)械臂擺動(dòng)可以實(shí)現(xiàn)多種模式下的檢測方式。