一種基于ADCP系統(tǒng)的發(fā)射檢測電路

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810602087.8 申請日 -
公開（公告）號 CN108593959A 公開（公告）日 2018-09-28
申請公布號 CN108593959A 申請公布日 2018-09-28
分類號 G01P5/24;G01P21/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 彭東立;童齊;仇付鵬 申請（專利權）人 南京海普水文科技有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 210000 江蘇省南京市高新開發(fā)區(qū)惠達路6號北斗大廈16樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種基于ADCP系統(tǒng)的發(fā)射自檢電路。該電路包括:發(fā)射電壓單元、電壓采樣單元、數(shù)字電路板、發(fā)射驅動單元和換能器，所述發(fā)射電壓單元包括正發(fā)射電壓單元和負發(fā)射電壓單元，所述正發(fā)射電壓單元與所述電壓采樣單元相連，所述負發(fā)射電壓單元與電壓采樣單元相連，所述電壓采樣單元與所述發(fā)射驅動單元相連，所述數(shù)字電路板與所述電壓采樣單元相連，所述發(fā)射驅動單元與所述換能器相連，用于根據(jù)提供的電壓源驅動所述換能器。本發(fā)明通過采集發(fā)射電壓的參數(shù)可進一步得出發(fā)射通道的電流值，根據(jù)電壓值和電流值可判斷具體為哪個模塊出現(xiàn)故障，實現(xiàn)發(fā)射電路的檢測，具有實現(xiàn)簡單，便于操作和硬件設計復雜度小等優(yōu)點。