一種顆粒物連續(xù)監(jiān)測(cè)裝置及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201410403117.4 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN104132863B 公開(kāi)（公告）日 2017-10-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN104132863B 申請(qǐng)公布日 2017-10-31
分類(lèi)號(hào) G01N5/00(2006.01)I;G01N15/06(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 李虹杰;范新峰;李金平;李?lèi)痱?/td> 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 武漢市天虹儀表有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 430223 湖北省武漢市東湖高新科技開(kāi)發(fā)區(qū)華師園北路11號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種細(xì)粒子監(jiān)測(cè)儀，屬于環(huán)境監(jiān)測(cè)領(lǐng)域，具體涉及一種微量振蕩天平法與光散射法融合的顆粒物連續(xù)監(jiān)測(cè)裝置。本發(fā)明基于微量振蕩天平法，通過(guò)增加光散射法來(lái)測(cè)量顆粒物濃度，其中以微量振蕩天平法所測(cè)的濃度作為標(biāo)準(zhǔn)濃度實(shí)時(shí)校正光散射濃度，而光散射法所測(cè)濃度作為微量振蕩天平法數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)補(bǔ)充，并且作為微量振蕩天平法測(cè)量數(shù)據(jù)是否異常的判斷依據(jù)。本發(fā)明不僅實(shí)現(xiàn)了揮發(fā)性顆粒物濃度的測(cè)量，而且解決了采樣數(shù)據(jù)不能連續(xù)的問(wèn)題；特別是解決了環(huán)境干擾對(duì)濃度測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，保證了儀器濃度測(cè)量的準(zhǔn)確性，提高了儀器穩(wěn)定運(yùn)行的可靠性。