一種基于振蕩天平的細(xì)粒子連續(xù)監(jiān)測儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410245784.4 申請日 -
公開（公告）號 CN104111215B 公開（公告）日 2017-10-31
申請公布號 CN104111215B 申請公布日 2017-10-31
分類號 G01N15/06(2006.01)I;G01N5/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李虹杰;李金平;李愷驊 申請（專利權(quán)）人 武漢市天虹儀表有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 430223 湖北省武漢市東湖高新華師園北路11號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于振蕩天平的細(xì)粒子連續(xù)監(jiān)測儀，包括一個氣體采集組件、與氣體采集組件連接的輔助流量監(jiān)測組件、與氣體采集組件連接的一級振蕩天平監(jiān)測組件、以及與氣體采集組件連接的二級振蕩天平監(jiān)測組件；所述的氣體采集組件包括一級細(xì)粒子分流單元和二級細(xì)粒子分流單元；所述一級振蕩天平監(jiān)測組件與一級細(xì)粒子分流單元連接；所述二級振蕩天平監(jiān)測組件與二級細(xì)粒子分流單元連接，所述的一級振蕩天平監(jiān)測組件和二級振蕩天平監(jiān)測組件同時連接振蕩天平檢測儀。本發(fā)明能很好地解決濕度的影響，通過分時差分，又能測量揮發(fā)性顆粒與半揮發(fā)性顆粒物的濃度，并得到不受濕度、揮發(fā)性與半揮發(fā)性顆粒物的影響濃度值。