一種用于激光器芯片集成測試的方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011342433.7 申請日 -
公開（公告）號 CN112147490A 公開（公告）日 2020-12-29
申請公布號 CN112147490A 申請公布日 2020-12-29
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張華;薛銀飛;黃河 申請（專利權）人 上海菲萊測試技術有限公司
代理機構 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 上海菲萊測試技術有限公司
地址 200120 上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)祥科路111號3號樓717室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用于激光器芯片集成測試的方法及系統(tǒng)，所述方法包括：獲得第一激光器芯片的第一需求信息和第一測試環(huán)境信息；判斷第一測試環(huán)境信息是否滿足第一預設條件；若滿足獲得第一操作命令；分別獲得第一、二溫度梯度差值對第一激光器芯片溫度的第一、二影響度；判斷第一、二影響度是否處于預設影響度閾值范圍；如果均處于，將光譜測試儀與第一激光器芯片連接；獲得第一激光器芯片的實時光譜數(shù)據(jù)信息；獲得第一激光器芯片的實時芯片結溫信息和預設芯片結溫信息；判斷實時芯片結溫信息是否處于預設芯片結溫信息范圍內(nèi)；若處于，則獲得第二操作命令。解決了傳統(tǒng)的需要兩臺設備進行需求測試，以及需要人為干預測試的技術問題。