一種光芯片快速壓接檢測裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011414155.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112197820B | 公開（公告）日 | 2021-03-02 |
| 申請公布號 | CN112197820B | 申請公布日 | 2021-03-02 |
| 分類號 | G01D21/02(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 張華;薛銀飛;黃河 | 申請（專利權(quán)）人 | 上海菲萊測試技術(shù)有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 黃啟兵 |
| 地址 | 200120上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)祥科路111號3號樓717室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開一種光芯片快速壓接檢測裝置，包括下殼體內(nèi)固定有下PCB板；芯片載具安裝在下殼體頂面上均勻放置有芯片；芯片溫控機構(gòu)設(shè)在下殼體內(nèi)與下PCB板電連接；上蓋設(shè)在下殼體上方一端與下殼體鉸接，與下殼體間設(shè)有鎖扣卡緊機構(gòu)；浮動定位板安裝在上蓋底面，底面固定有上PCB板，底面安裝有彈簧探針；光功率檢測機構(gòu)安裝在上PCB板底面；接頭設(shè)置在下殼體一側(cè)與下PCB板電連接。本發(fā)明上蓋關(guān)閉時芯片通電，同時光功率檢測機構(gòu)對芯片進行光功率檢測，提高了測試效率，降低了成本；浮動定位板浮動安裝適配不同芯片，采用彈簧探針，有效保證芯片壓緊，避免接觸不良和散熱不均勻；僅需控制上蓋即可實現(xiàn)芯片的壓緊通電，有助于實現(xiàn)標準化檢測。?? |
