一種用于激光器芯片集成測試的方法及系統(tǒng)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011342433.7 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112147490B | 公開（公告）日 | 2021-03-02 |
| 申請公布號 | CN112147490B | 申請公布日 | 2021-03-02 |
| 分類號 | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 張華;薛銀飛;黃河 | 申請（專利權(quán)）人 | 上海菲萊測試技術(shù)有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 黃啟兵 |
| 地址 | 200120上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)祥科路111號3號樓717室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種用于激光器芯片集成測試的方法及系統(tǒng)，所述方法包括：獲得第一激光器芯片的第一需求信息和第一測試環(huán)境信息；判斷第一測試環(huán)境信息是否滿足第一預(yù)設(shè)條件；若滿足獲得第一操作命令；分別獲得第一、二溫度梯度差值對第一激光器芯片溫度的第一、二影響度；判斷第一、二影響度是否處于預(yù)設(shè)影響度閾值范圍；如果均處于，將光譜測試儀與第一激光器芯片連接；獲得第一激光器芯片的實時光譜數(shù)據(jù)信息；獲得第一激光器芯片的實時芯片結(jié)溫信息和預(yù)設(shè)芯片結(jié)溫信息；判斷實時芯片結(jié)溫信息是否處于預(yù)設(shè)芯片結(jié)溫信息范圍內(nèi)；若處于，則獲得第二操作命令。解決了傳統(tǒng)的需要兩臺設(shè)備進(jìn)行需求測試，以及需要人為干預(yù)測試的技術(shù)問題。?? |
