一種激光器芯片老化和LIV測(cè)試檢測(cè)方法、系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011038287.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN111880087A | 公開(kāi)（公告）日 | 2020-11-03 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111880087A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-11-03 |
| 分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I;H01S3/00(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 張華;薛銀飛;黃河 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海菲萊測(cè)試技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 上海菲萊測(cè)試技術(shù)有限公司 |
| 地址 | 201210上海市浦東新區(qū)中國(guó)(上海)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)祥科路111號(hào)3號(hào)樓717室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種激光器芯片老化和LIV測(cè)試的檢測(cè)方法、系統(tǒng)，處理器根據(jù)上位機(jī)指示進(jìn)行老化和LIV測(cè)試;處理器通過(guò)控制熱沉及加熱模塊給芯片載具加熱，直到溫度穩(wěn)定在預(yù)先設(shè)定的溫度值，處理器再對(duì)每一顆芯片進(jìn)行加電，回讀加載在芯片上的電流值和電壓值及光功率值；在進(jìn)行LIV測(cè)試流程時(shí)，對(duì)加電控制和電流電壓監(jiān)控模塊采用的加電方式是步進(jìn)式掃描，并間隔固定的時(shí)間回讀加載在芯片上的電流值和電壓值及激光器芯片的光功率值，處理器將獲取的值通過(guò)通訊接口發(fā)送給上位機(jī)；上位機(jī)顯示所獲取的信息；本發(fā)明能提高激光器芯片檢測(cè)效率、減少占地資源并能實(shí)現(xiàn)設(shè)備的復(fù)用率。?? |
