一種大功率光芯片檢測平臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110634309.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113092994A 公開（公告）日 2021-07-09
申請公布號 CN113092994A 申請公布日 2021-07-09
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01M11/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張華;薛銀飛;寧震坤 申請（專利權(quán)）人 上海菲萊測試技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 孫柳
地址 200120上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗區(qū)祥科路111號3號樓717室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種大功率光芯片檢測平臺，包括上蓋單元，上蓋單元固定在檢測箱內(nèi)，內(nèi)置有位于上方的上PCB板、探針和位于兩側(cè)的光檢測機構(gòu)，下座單元插入檢測箱內(nèi)位于上蓋單元下方，下座單元包括底座，底座上安裝有下PCB板，底座兩側(cè)均勻開設(shè)有槽口，槽口內(nèi)滑動安裝有彈性固定機構(gòu)，彈性固定機構(gòu)上夾持安裝有芯片，芯片與下PCB板電連接；其中，探針、上PCB板、芯片、下PCB板形成回路。本發(fā)明滑動方式安裝彈性固定機構(gòu)，到位后芯片與下PCB電連接，更換芯片方便快捷；能夠?qū)崿F(xiàn)模塊化設(shè)計，匹配不同型號芯片；在檢測過程中，可用彈性固定機構(gòu)將下一批次芯片固定，檢測完成后直接更換彈性固定機構(gòu)即可，大大提高效率，省略了芯片安裝等待時間。