一種中高壓的溝槽式功率金氧半場(chǎng)效晶體管的結(jié)構(gòu)與制造方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201910143557.3 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN109860308B | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-02-15 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN109860308B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-02-15 |
分類號(hào) | H01L29/786(2006.01)I;H01L21/266(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 李振道;孫明光 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 應(yīng)能微電子(上海)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 213022 江蘇省常州市常州新北區(qū)華山路8號(hào)-5號(hào)樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種中高壓的溝槽式功率金氧半場(chǎng)效晶體管的結(jié)構(gòu)及其制造方法,包括:一襯底+外延,一氧化層,一閘極氧化層,一多晶硅(Poly?Si)層,一場(chǎng)氧化層,一第一摻雜區(qū),一第二摻雜區(qū),一第一次注入第一P+摻雜區(qū),一第一次注入第二P+摻雜區(qū),一介電質(zhì)層(ILD),一第二次注入第一P+摻雜區(qū),一第二次注入第二P+摻雜區(qū),一第一金屬層,一第二金屬層,本發(fā)明使用深離子植入技巧,改變電壓崩潰時(shí)電流路徑由原本的P?摻雜區(qū)轉(zhuǎn)向P+摻雜區(qū)方向流動(dòng),由于P+摻雜區(qū)阻值較小,使電流與路徑阻值的乘積不易大于內(nèi)建寄生雙級(jí)晶體管的Vbe電壓讓三極管導(dǎo)通,因而容易維持原本雪崩崩潰(UIS)能力及降低snapback發(fā)生機(jī)率,本發(fā)明能完成中高電壓的產(chǎn)品,大大提升產(chǎn)品的應(yīng)用范圍。 |
