一種可控硅檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201320085406.5 申請日 -
公開（公告）號 CN203117379U 公開（公告）日 2013-08-07
申請公布號 CN203117379U 申請公布日 2013-08-07
分類號 G01R31/26(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 翁策高 申請（專利權(quán)）人 深圳市高科特半導(dǎo)體有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 516622 廣東省汕尾市紅海灣區(qū)田乾街道六村大街供銷社9號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種可控硅檢測裝置，它包括功能轉(zhuǎn)換開關(guān)、正向觸發(fā)按鈕、關(guān)斷按鈕、電阻、三孔插座，其特征是功能轉(zhuǎn)換開關(guān)、正向觸發(fā)按鈕、關(guān)斷按鈕、電阻、三孔插座，分別與單片機控制處理部分用電信號連接，功能轉(zhuǎn)換開關(guān)可以轉(zhuǎn)換兩個位置SCR位置GTO位置，以檢測單向晶閘管、雙向晶閘管和可關(guān)斷晶閘管GTO，故障信號發(fā)送是使用光纖進行傳送。