芯片電容電子元器件用傾斜式外觀檢測(cè)設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202021943954.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN213148763U 公開(kāi)(公告)日 2021-05-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN213148763U 申請(qǐng)公布日 2021-05-07
分類(lèi)號(hào) G01N21/88(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 分類(lèi) -
發(fā)明人 陳垚;龔博;陳悅安;魏華良;羅星 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 珠海市奧德維科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 519075廣東省珠海市前山瀝溪工業(yè)園福田路10號(hào)博杰電子1棟1樓珠海市奧德維科技有限公司
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 實(shí)用新型公開(kāi)了芯片電容電子元器件用傾斜式外觀檢測(cè)設(shè)備,包括基臺(tái),基臺(tái)的頂部固接有安裝板,安裝板靠近頂端的外側(cè)壁固接有安裝座,安裝座上轉(zhuǎn)動(dòng)連接有第一滑臺(tái),第一滑臺(tái)上固接有固定座,固定座上固接有檢測(cè)部,安裝板的側(cè)壁還滑動(dòng)連接有第二滑臺(tái),安裝板的側(cè)壁還設(shè)有伸縮組件,伸縮組件的伸縮端與第二滑臺(tái)的底端轉(zhuǎn)動(dòng)相連;本實(shí)用新型克服了芯片電容高度過(guò)低、元件過(guò)薄帶來(lái)的檢測(cè)成像困難等問(wèn)題,能夠?qū)π酒娙莸陌伎?、露瓷、異色、卷邊、缺角、發(fā)黃、崩瓷、污染劃痕等等多種外觀缺陷進(jìn)行檢測(cè)。??