平板探測器的壞點校正方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510232797.2 申請日 -
公開（公告）號 CN104835125B 公開（公告）日 2018-04-03
申請公布號 CN104835125B 申請公布日 2018-04-03
分類號 G06T5/00 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 陳永麗;牛杰;胡揚;崔凱;張文日 申請（專利權(quán)）人 聯(lián)影（常州）醫(yī)療科技有限公司
代理機構(gòu) 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司;聯(lián)影（常州）醫(yī)療科技有限公司
地址 201815 上海市嘉定區(qū)城北路2258號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種平板探測器的壞點校正方法，是對平板探測器進行壞點識別，將壞點分為第一類壞點和第二類壞點，并分別采取不同的方法校正第一類壞點和第二類壞點。此方法分別對相對獨立的壞點和相對集中的壞點采取不同的方法進行校正，可以降低校正難度，提高校正的準(zhǔn)確性。