芯片測試座

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120939515.3 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN213398670U 公開（公告）日 2021-06-08
申請公布號(hào) CN213398670U 申請公布日 2021-06-08
分類號(hào) G01R1/04;G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張勇文;袁小云 申請（專利權(quán)）人 四川蕊源集成電路科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都九鼎天元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 封浪
地址 611730 四川省成都市郫都區(qū)成都現(xiàn)代工業(yè)港南片區(qū)德源鎮(zhèn)菁德路36號(hào)1號(hào)樓1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種芯片測試座，涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，它包括連接在測試電路板上的連接座、與連接座連接的固定座和安裝座；固定座上設(shè)置有彈性件，安裝座固定在彈性件上，且其上安裝有芯片。連接座安裝在測試電路板的正上方，固定座和安裝座設(shè)置在連接座上，也位于測試電路板的正上方，向安裝座施加向下的壓力，安裝座壓縮彈性件，帶動(dòng)位于安裝座上的芯片向靠近測試電路板的方向移動(dòng)，使得芯片的引腳能夠接觸到測試電路板的對應(yīng)觸點(diǎn)。測試電路板通電順序就不需要嚴(yán)格固定，使用本測試座測試芯片時(shí)不會(huì)完全依賴于操作人員的經(jīng)驗(yàn)，對于經(jīng)驗(yàn)不足的操作人員，也會(huì)快速進(jìn)入測試狀態(tài)，相對提高測試芯片的速度，進(jìn)而減少對測試效率的影響。