穩(wěn)定型光柵尺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023314934.2 申請日 -
公開（公告）號 CN214223987U 公開（公告）日 2021-09-17
申請公布號 CN214223987U 申請公布日 2021-09-17
分類號 G01B11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 巫孟良;胡勇;吳國良;蔣南 申請（專利權(quán)）人 廣東萬濠精密儀器股份有限公司
代理機構(gòu) 廈門市新華專利商標代理有限公司 代理人 吳成開;徐勛夫
地址 523000廣東省東莞市大朗鎮(zhèn)象山工業(yè)園象山中路39號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開一種穩(wěn)定型光柵尺，包括有基板和設(shè)置于基板之表面上的多個刻度光柵；每一刻度光柵均包括有下氧化鉻層、鉻層和上氧化鉻層；該下氧化鉻層結(jié)合固定在基板的表面上，該鉻層結(jié)合固定在下氧化鉻層的表面上，該上氧化鉻層結(jié)合固定在鉻層的表面上。通過由下氧化鉻層、鉻層和上氧化鉻層組成刻度光柵，利用下氧化鉻層和上氧化鉻層包覆住鉻層，氧化鉻更硬，可減少劃痕，化學(xué)穩(wěn)定性更好，產(chǎn)品更耐用，并且下氧化鉻層和上氧化鉻層可減少光的反射量，使得平行光質(zhì)量更好。