ITO導電玻璃檢測方法與檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610135623.9 申請日 -
公開（公告）號 CN107014830A 公開（公告）日 2017-08-04
申請公布號 CN107014830A 申請公布日 2017-08-04
分類號 G01N21/958 分類 測量；測試;
發(fā)明人 梁鴻 申請（專利權(quán)）人 上海帆煊科技有限公司
代理機構(gòu) 上海容慧專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 于曉菁
地址 201206 上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗區(qū)新金橋路27號13樓2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種ITO導電玻璃檢測方法與檢測裝置，所述檢測方法包括：對ITO導電玻璃的待檢測表面進行連續(xù)拍攝，獲得能夠覆蓋所述待檢測表面全部圖形區(qū)域的所有目標圖像；對拍攝獲得的各個目標圖像進行預(yù)處理；對各個經(jīng)過預(yù)處理的目標圖像進行斷點檢測，所述斷點檢測包括：檢測預(yù)處理后的目標圖像上的每個像素點，判斷各像素點是否處于直線的斷點上，所述斷點為一條直線上像素點亮度出現(xiàn)突變而導致不連續(xù)的像素區(qū)域；從通過所述斷點檢測后所有被判斷為斷點的區(qū)域中，排除屬于正常斷點的區(qū)域，并將其余斷點的區(qū)域確定為劃傷區(qū)域。本發(fā)明技術(shù)方案能簡單、高效、準確地檢測出ITO導電玻璃待檢測表面的導電線路細微劃傷情況以及短路情況。