激光芯片老化測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021665211.4 申請日 -
公開（公告）號 CN212567879U 公開（公告）日 2021-02-19
申請公布號 CN212567879U 申請公布日 2021-02-19
分類號 G01M11/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 安海巖;王威;徐豪 申請（專利權）人 武漢銳晶激光芯片技術有限公司
代理機構 北京眾達德權知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 李嬌
地址 430000湖北省武漢市未來科技城A5北C1棟902室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種激光芯片老化測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：老化測試模塊，安裝有多個待測試芯片；光纖傳輸模塊，包括多根光纖，每根光纖對應于一個待測試芯片，每根光纖的第一端設置在相應待測試芯片的出光位置處以收集該待測試芯片發(fā)射的激光，第二端將激光輸出；收光測試模塊，用于采集及測試光纖傳輸模塊輸出的激光，以進一步對收光測試模塊輸出的測量數(shù)據(jù)進行分析，得到待測試芯片的老化測試數(shù)據(jù)。這樣就可以實現(xiàn)老化測試與光學測試在空間上的解耦，有效地簡化了系統(tǒng)設計。??