一種電子元件檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010285858.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN111412949A | 公開（公告）日 | 2020-07-14 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111412949A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-07-14 |
| 分類號(hào) | G01D21/02(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 程如良 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 杭州思元智能科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 杭州裕陽(yáng)聯(lián)合專利代理有限公司 | 代理人 | 田金霞 |
| 地址 | 311100浙江省杭州市余杭區(qū)良渚街道良運(yùn)街290號(hào)4幢1-3層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 一種電子元件檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置，方法包括以下步驟：待檢測(cè)的電子元件置于待檢測(cè)工作臺(tái)；采集電子元件上表面和下表面的完整圖像；分析電子元件的上表面和下表面的完整圖像為電子元件的正面還是背面；判斷若為正面，調(diào)用正面檢測(cè)程序?qū)ζ溥M(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)；判斷若為背面，調(diào)用背面檢測(cè)程序?qū)ζ溥M(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)。檢測(cè)裝置包括供料器、透明工作轉(zhuǎn)盤、圖像采集設(shè)備和檢測(cè)系統(tǒng)；其中，所述圖像采集設(shè)備連接所述檢測(cè)系統(tǒng)，傳輸圖像給檢測(cè)系統(tǒng)，供料器輸出端連接透明工作轉(zhuǎn)盤，將物料排列輸送至透明工作轉(zhuǎn)盤；本發(fā)明提供了一種送料階段無(wú)需進(jìn)行正背面設(shè)定的質(zhì)檢方法，稼動(dòng)率提高30％以上。?? |
