一種基于深度學(xué)習(xí)的薄膜表面缺陷檢測方法、系統(tǒng)及設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910694129.X 申請日 -
公開（公告）號 CN110473179A 公開（公告）日 2019-11-19
申請公布號 CN110473179A 申請公布日 2019-11-19
分類號 G06T7/00;G06K9/62;G06N20/00 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 毛雪慧;陳果;閆龑;王洋 申請（專利權(quán)）人 上海深視信息科技有限公司
代理機構(gòu) 上海精晟知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 上海深視信息科技有限公司
地址 200241 上海市閔行區(qū)東川路555號乙樓1027室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種基于深度學(xué)習(xí)的薄膜表面缺陷檢測方法、系統(tǒng)及設(shè)備。一種基于深度學(xué)習(xí)的薄膜表面缺陷檢測方法包括S1：對檢材正面進行圖像采集；S2：對所述檢材反面進行所述圖像采集；S3：進行圖像預(yù)處理；S4：進行輪廓外觀缺陷檢測；S5：判斷輪廓檢測結(jié)果；S6：使用多通道進行融合，得到多通道融合圖像；S7：導(dǎo)入預(yù)先訓(xùn)練好的深度學(xué)習(xí)模型中。一種基于深度學(xué)習(xí)的薄膜表面缺陷檢測系統(tǒng)包括圖像采集模塊、圖像預(yù)處理模塊、圖像融合模塊和圖像檢測模塊；一種基于深度學(xué)習(xí)的薄膜表面缺陷檢測設(shè)備包括存儲器和處理器。本發(fā)明的有益效果是：可在成本低廉前提下，對光學(xué)薄膜缺陷進行有效識別，減少人工成本，提高識別效率，且部署簡單，可重復(fù)性較高。