一種光學元件光學表面面形掃描用位移臺
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201921212988.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN210268551U | 公開(公告)日 | 2020-04-07 |
申請公布號 | CN210268551U | 申請公布日 | 2020-04-07 |
分類號 | G01B11/24;G01B11/02 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 王曰明;李明富;梁邦遠;王世雷;孫佳卓 | 申請(專利權(quán))人 | 青島前哨精密儀器有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京和信華成知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 張曉 |
地址 | 266000 山東省青島市高新區(qū)錦暄路61號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種光學元件光學表面面形掃描用位移臺,包括基座,基座的左、右兩端垂直固定設置有立柱,兩個立柱的頂部垂直固定設置有橫梁;基座的上表面設置有平臺;平臺的底部設置有第一方向標尺光柵,基座上固定設置有第一光柵讀數(shù)頭;橫梁的前端面上設置有第一滑臺和第二滑臺;橫梁的前端面設置有第二方向標尺光柵,第一滑臺上固定設置有第二光柵讀數(shù)頭;第二滑臺上固定設置有第二光柵讀數(shù)頭。本實用新型中平臺、第一滑臺、第二滑臺均由直線電機控制滑動,直線電機的傳動精度高、動態(tài)響應快、穩(wěn)定性高,同時在各個相應的光柵尺位移傳感器的配合下,能夠通過位移反饋出待檢測光學元件的相應位置,且定位精度較高。 |
