一種光學(xué)元件的自動(dòng)上下料裝置及上下料控制方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010310567.4 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN111285041A | 公開(kāi)(公告)日 | 2020-06-16 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN111285041A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-06-16 |
分類號(hào) | B65G35/00(2006.01)I | 分類 | - |
發(fā)明人 | 張自強(qiáng);陳堅(jiān);吳周令 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 無(wú)錫利弗莫爾儀器有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 合肥天明專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 韓燕 |
地址 | 214000江蘇省無(wú)錫市無(wú)錫新區(qū)太湖國(guó)際科技園清源路20號(hào)傳感網(wǎng)大學(xué)科技園立業(yè)樓E區(qū)112號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種光學(xué)元件的自動(dòng)上下料裝置及上下料控制方法,自動(dòng)上下料裝置包括有底座、設(shè)置于底座上的輸送軌道、設(shè)置于底座上且分別位于輸送軌道兩端的上料裝置和下料裝置,輸送軌道的上方設(shè)置有光學(xué)元件檢測(cè)工位。本發(fā)明設(shè)置有上料裝置和下料裝置,上料裝置和下料裝置均為機(jī)械化操控,大大提高了光學(xué)元件檢測(cè)的效率,降低了勞動(dòng)力,且避免人工上料對(duì)光學(xué)元件的損傷。?? |
