一種傳感器芯片標定測試調(diào)度方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011231388.8 申請日 -
公開（公告）號 CN112325920B 公開（公告）日 2021-11-23
申請公布號 CN112325920B 申請公布日 2021-11-23
分類號 G01D18/00;G05B19/418 分類 測量；測試;
發(fā)明人 崔小龍;范兆周;張遼;竇磊 申請（專利權(quán)）人 北京清大天達光電科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京知呱呱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 孫志一
地址 101200 北京市平谷區(qū)馬坊鎮(zhèn)金馬北街61號院2號樓1至2層101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請實施例公開了一種傳感器芯片標定測試調(diào)度方法和系統(tǒng)，用于調(diào)度傳感器標定線上多個傳感器的芯片載板在多個芯片測試區(qū)同時進行標定測試，包括：多個測試區(qū)的標定測試是否完成，其它非測試區(qū)的芯片載板的工藝溫度是否準備好，根據(jù)判斷結(jié)果，決定是否將芯片載板送往下一個溫區(qū)、以及是否送往下一個溫區(qū)的某一個溫箱。還提供了一種調(diào)度系統(tǒng)，能供確保芯片載板按照使用需求在不同溫區(qū)的不同溫箱停留并執(zhí)行工藝動作，并且停留時間和每個芯片載板的位置信息實時可控可查。同時進行多個芯片標定作業(yè)，提高了標定線的生產(chǎn)效率、減少了整線的芯片載板數(shù)量冗余。