發(fā)光二極管制備方法和發(fā)光二極管
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201911118821.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110828623A | 公開(公告)日 | 2020-02-21 |
申請公布號 | CN110828623A | 申請公布日 | 2020-02-21 |
分類號 | H01L33/00;H01L33/06 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 王晟 | 申請(專利權(quán))人 | 蕪湖德豪潤達(dá)光電科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 蕪湖德豪潤達(dá)光電科技有限公司 |
地址 | 241000 安徽省蕪湖市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)緯二次路11號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請?zhí)峁┮环N發(fā)光二極管制備方法和發(fā)光二極管。在三甲基鎵層生長時(shí),NH3流量開大,H2流量開小,使得三甲基鎵生長速度較快,生長速度控制在N型半導(dǎo)體層生長速度的1/3~1/5。在三乙基鎵層生長時(shí),NH3流量開小,H2流量開大,使得三乙基鎵生長速度較慢,生長速度約為三甲基鎵層生長速度的1/10~1/20。通過控制三乙基鎵層生長速度,可以使得表面原子充分重組。并且,采用三乙基鎵生長和H2的量增加,使得C含量下降,進(jìn)而減少了V?pits,降低了缺陷密度。通過S20和S30,避免了V?pits成長過快導(dǎo)致的缺陷,提高了外延生長質(zhì)量及外延片表面形貌正常,并且減少了過多的V?pits導(dǎo)致的缺陷,不易于延伸至量子阱層,進(jìn)而提高了多量子阱層的生長質(zhì)量,提高了空穴與電子的復(fù)合效率。 |
