一種廢晶圓表面膜剝離再生處理工藝及其裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110858667.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113471067A | 公開(公告)日 | 2021-10-01 |
申請公布號 | CN113471067A | 申請公布日 | 2021-10-01 |
分類號 | H01L21/02(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 賀賢漢;原英樹;杉原一男;佐藤泰幸 | 申請(專利權(quán))人 | 上海申和熱磁電子有限公司 |
代理機構(gòu) | 銅陵市天成專利事務所(普通合伙) | 代理人 | 李坤 |
地址 | 201900上海市寶山區(qū)寶山城市工業(yè)園區(qū)山連路181號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及晶圓再生技術(shù)領域,公開了一種廢晶圓表面膜剝離再生處理工藝及其裝置,該工藝具體包括如下步驟:在再生晶圓兩側(cè)表面形成一層流動的化學腐蝕試劑薄膜,對再生晶圓表面的氧化膜進行化學腐蝕;在上述步驟完成后,在再生晶圓兩側(cè)表面形成一層流動的研磨拋光油膜,對再生晶圓表面的氧化膜進行研磨剝離;在上述步驟完成后,在再生晶圓兩側(cè)表面形成一層流動的清洗液膜,對再生晶圓表面剝離下的氧化膜進行清洗。本發(fā)明采用晶圓表面化學試劑流動薄膜腐蝕、油膜保護下的氧化膜剝離和晶圓表面切應力清洗的三步連續(xù)處理工藝,有效提高廢晶圓再生處理的效率以及質(zhì)量。 |
