一種新型晶片自動測頻機構(gòu)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122074074.8 申請日 -
公開（公告）號 CN215865060U 公開（公告）日 2022-02-18
申請公布號 CN215865060U 申請公布日 2022-02-18
分類號 G01B7/06（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 唐志強 申請（專利權(quán)）人 紹興奧美電子科技有限公司
代理機構(gòu) 杭州六方于義專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 施少鋒
地址 312500浙江省紹興市新昌縣七星街道省級高新技術(shù)園區(qū)內(nèi)新濤路69號美盛文化6號廠房（住所申報）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種新型晶片自動測頻機構(gòu)，包括金屬電極、頻率?厚度信號轉(zhuǎn)換器、顯示裝置、第一電機和第二電機，金屬電極包括上電極模塊和下電極模塊，第二電機轉(zhuǎn)動連接有轉(zhuǎn)盤，下電極模塊設(shè)于轉(zhuǎn)盤上，將晶片吸取到下電極模塊上，通過第二電機控制轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動，再通過第一電機控制上電極模塊下降，上電極模塊接觸下電極模塊上的晶片。上電極模塊的輸出端連接頻率?厚度信號轉(zhuǎn)換器的輸入端，用于輸出晶片的頻率，頻率?厚度信號轉(zhuǎn)換器的輸出端連接顯示裝置的輸入端，用于實時接受頻率，并將頻率轉(zhuǎn)換為厚度數(shù)據(jù)，輸出該厚度數(shù)據(jù)。本實用新型能對不同的晶片進行連續(xù)測頻，提高測頻效率，而且具有對頻率進行高精度測量的能力，實現(xiàn)厚度的精確監(jiān)測。