一種晶體振蕩器的性能檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111339990.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114130715A 公開（公告）日 2022-03-04
申請公布號 CN114130715A 申請公布日 2022-03-04
分類號 B07C5/344（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;B07C5/38（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 唐志強 申請（專利權(quán)）人 紹興奧美電子科技有限公司
代理機構(gòu) 杭州六方于義專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 尹科峰
地址 312500浙江省紹興市新昌縣七星街道省級高新技術(shù)園區(qū)內(nèi)新濤路69號美盛文化6號廠房（住所申報）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種晶體振蕩器的性能檢測方法，包括如下步驟：（a）包夾；（b）轉(zhuǎn)送；（c）檢測；（d）逐個操作。本發(fā)明前后分步有序，互不干擾，自動高效，逐個排查，不容易出錯，省力便捷，降低了人工勞動強度和成本，有效固定晶體振蕩器，可進行連續(xù)化檢測工作。