一種5G高頻用超低介電常數(shù)中空二氧化硅及其制備方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010152657.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN111232993B | 公開(公告)日 | 2021-09-14 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN111232993B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-09-14 |
分類號(hào) | C01B33/18;B82Y30/00;B82Y40/00 | 分類 | 無機(jī)化學(xué); |
發(fā)明人 | 宋錫濱;馬雁冰;李心勇;潘光軍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海國(guó)瓷新材料技術(shù)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京智橋聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 杜瑞鋒 |
地址 | 257091 山東省東營(yíng)市經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)遼河路24號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明屬于材料化學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種5G高頻用超低介電常數(shù)中空二氧化硅材料,并進(jìn)一步公開其制備方法與應(yīng)用。本發(fā)明所述中空二氧化硅材料為具有一定閉合空腔結(jié)構(gòu)的無定型二氧化硅粉體材料,其殼體表面及內(nèi)部光滑平整,殼體具有氣孔,利用二氧化硅和空氣的復(fù)合特性,使得整個(gè)高頻帶上介電常數(shù)、介電損耗趨于穩(wěn)定,在5G高頻20?43.5GHz范圍內(nèi)介電常數(shù)為1.5?3.3,克服傳統(tǒng)陶瓷材料高介電損耗的缺點(diǎn),適用于5G通訊消費(fèi)電子芯片封裝陶瓷基板、玻璃陶瓷共燒基板等應(yīng)用領(lǐng)域。 |
