芯片測試治具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011061749.9 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN112415359A 公開（公告）日 2021-02-26
申請公布號(hào) CN112415359A 申請公布日 2021-02-26
分類號(hào) G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王泰山;劉文斌;李成鵬;藍(lán)清鋒 申請（專利權(quán)）人 深圳瑞波光電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黎堅(jiān)怡
地址 518052廣東省深圳市南山區(qū)西麗鎮(zhèn)茶光路1089號(hào)深圳集成電路設(shè)計(jì)應(yīng)用產(chǎn)業(yè)園404
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種芯片測試治具。該芯片測試治具包括：散熱座，設(shè)有連通的管腳孔和容置腔；絕緣件，固定于容置腔內(nèi)，設(shè)有安裝孔，安裝孔與管腳孔連通；給電件，固定于安裝孔；其中，散熱座用于與芯片的熱沉相接觸，芯片的管腳經(jīng)管腳孔與給電件電連接，經(jīng)給電件上電以對(duì)芯片進(jìn)行測試。通過將絕緣件設(shè)置于散熱座的容置腔，給電件設(shè)置于絕緣件的安裝孔，且安裝孔與散熱座的管腳孔相通，本申請?zhí)峁┑男酒瑴y試治具能夠給電可靠且可實(shí)現(xiàn)提高連續(xù)注入的測試電流值。??