檢測(cè)治具和檢測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010923150.5 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN112161981A 公開(公告)日 2021-01-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN112161981A 申請(qǐng)公布日 2021-01-01
分類號(hào) G01N21/84(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 趙楚中;吳淑娟 申請(qǐng)(專利權(quán))人 深圳瑞波光電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 深圳瑞波光電子有限公司
地址 518052廣東省深圳市南山區(qū)西麗鎮(zhèn)茶光路1089號(hào)深圳集成電路設(shè)計(jì)應(yīng)用產(chǎn)業(yè)園404
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開了一種檢測(cè)治具和檢測(cè)裝置。該檢測(cè)治具包括:支撐組件;承載桿,轉(zhuǎn)動(dòng)支撐于支撐組件上,且承載桿沿軸向設(shè)有承載平面,承載平面設(shè)有吸附孔;其中,吸附孔用于吸附固定芯片條于承載平面。通過(guò)承載桿轉(zhuǎn)動(dòng)支撐于支撐組件,并采用負(fù)壓吸附的方式通過(guò)吸附孔將芯片條吸附固定于承載桿的承載平面上,本申請(qǐng)?zhí)峁┑臋z測(cè)治具能夠有效地提高檢測(cè)芯片條的效率。??