半導(dǎo)體激光芯片組件的測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010319063.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN111551838A 公開(kāi)(公告)日 2020-08-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN111551838A 申請(qǐng)公布日 2020-08-18
分類(lèi)號(hào) G01R31/26(2014.01)I 分類(lèi) -
發(fā)明人 王泰山;劉文斌;李成鵬;藍(lán)清鋒 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 深圳瑞波光電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 深圳瑞波光電子有限公司
地址 518052廣東省深圳市南山區(qū)西麗鎮(zhèn)茶光路1089號(hào)深圳集成電路設(shè)計(jì)應(yīng)用產(chǎn)業(yè)園404
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種半導(dǎo)體激光芯片組件的測(cè)試裝置,包括:基座組件,其包括操作平面和凸設(shè)于操作平面上的凸臺(tái),凸臺(tái)上設(shè)置有垂直于操作平面的安裝平面,以供待測(cè)試的半導(dǎo)體激光芯片組件的第一表面貼附;驅(qū)動(dòng)組件,放置在操作平面上,且驅(qū)動(dòng)組件上設(shè)置有電極探針,其中,驅(qū)動(dòng)組件能夠帶動(dòng)電極探針在操作平面上相對(duì)于凸臺(tái)移動(dòng),從而能夠使半導(dǎo)體芯片組件夾設(shè)在安裝平面與電極探針之間,并使電極探針接觸半導(dǎo)體激光芯片組件的第二表面上的電極,以藉由電極探針供電至半導(dǎo)體激光芯片組件。通過(guò)上述方式,本發(fā)明能夠提高給半導(dǎo)體激光芯片組件供電的效率。??