一種MEMS加速度計自動批量標(biāo)定方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010263665.7 申請日 -
公開（公告）號 CN111337709A 公開（公告）日 2020-06-26
申請公布號 CN111337709A 申請公布日 2020-06-26
分類號 G01P21/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李政華;張婷婷;沈旭東 申請（專利權(quán)）人 嘉興恩湃電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 嘉興啟帆專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 嘉興恩湃電子技術(shù)有限公司
地址 314006浙江省嘉興市南湖區(qū)大橋鎮(zhèn)亞太工業(yè)園區(qū)（A9）363號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種MEMS加速度計自動批量標(biāo)定方法，包括以下步驟：步驟S1：一LabVIEW上位機(jī)控制一線性電源向位于一PCB測試工裝的待測試的至少一芯片供電，當(dāng)所述LabVIEW上位機(jī)判斷所述芯片得電后執(zhí)行步驟S2，否則重復(fù)執(zhí)行步驟S1；步驟S2：所述LabVIEW上位機(jī)通過一SPI適配器向所述芯片寫入燒錄值的初始值或者修正值；步驟S3：所述LabVIEW上位機(jī)控制一精密旋轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動預(yù)設(shè)的若干角度，使得所述芯片被置于相應(yīng)的若干位置。本發(fā)明公開的MEMS加速度計自動批量標(biāo)定方法，其有益效果在于，節(jié)省測試時間，提高測試效率，可以進(jìn)行批量測試。??