一種基于納米顆粒示蹤技術(shù)的納米顆粒粒徑分布檢測分析方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110433012.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113109218B 公開（公告）日 2022-03-22
申請公布號 CN113109218B 申請公布日 2022-03-22
分類號 G01N15/02（2006.01）I;G06V10/30（2022.01）I;G06V10/28（2022.01）I;G06V10/44（2022.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張艷微;鞏巖;郎松;胡慧杰 申請（專利權(quán)）人 中國科學(xué)院蘇州生物醫(yī)學(xué)工程技術(shù)研究所
代理機(jī)構(gòu) 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李博洋
地址 215163江蘇省蘇州市高新區(qū)科靈路88號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種液體中納米顆粒粒徑分布檢測分析方法，包括如下步驟：步驟1），基于納米顆粒示蹤技術(shù)確定待測液體中某一納米顆粒的運(yùn)動軌跡；步驟2），計算待測液體中納米顆粒的流動位移矢量，并將流動位移矢量從納米顆粒運(yùn)動位移矢量中去除，即得布朗運(yùn)動的位移矢量；步驟3），先根據(jù)所述納米顆粒的布朗運(yùn)動的位移計算其平均擴(kuò)散系數(shù)，再根據(jù)斯托克斯愛因斯坦方程計算得到納米顆粒粒徑；步驟4），通過對液體中所有納米顆粒的粒徑進(jìn)行分析，統(tǒng)計得到待測液體中納米顆粒的粒徑分布情況。該方法具有靈敏度高、準(zhǔn)確度高等優(yōu)點。