半導(dǎo)體探針外觀AOI檢測設(shè)備的上料機構(gòu)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121366394.4 申請日 -
公開（公告）號 CN215218574U 公開（公告）日 2021-12-17
申請公布號 CN215218574U 申請公布日 2021-12-17
分類號 G01N21/84（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 凌晨;陳志敏 申請（專利權(quán)）人 儒眾智能科技（蘇州）有限公司
代理機構(gòu) 蘇州六一專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 沈陳
地址 215000江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)方?jīng)苈?號群祥工業(yè)坊1#廠房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了半導(dǎo)體探針外觀AOI檢測設(shè)備的上料機構(gòu)，包括一號輸送臺，所述一號輸送臺下端表面設(shè)置有工作臺，所述一號輸送臺兩側(cè)表面的下方設(shè)置有滑板，所述滑板的上端表面的前方設(shè)置有一號通孔，所述工作臺的上端表面與一號輸送臺的兩側(cè)連接處設(shè)置有固定板，所述固定板的上端表面設(shè)置有二號通孔，所述二號通孔內(nèi)設(shè)置有固定銷，所述固定板的內(nèi)部設(shè)置有固定槽，所述固定槽內(nèi)位于二號通孔的正下方設(shè)置有固定孔。本實用新型所述的半導(dǎo)體探針外觀AOI檢測設(shè)備的上料機構(gòu)，具有便于上料機構(gòu)與工作臺快速安裝固定的效果，利于上料機構(gòu)的拆卸檢修，同時具有較好的探針檢測盤快速取出的作用，提高工作效率。