用于芯片的輸入?yún)?shù)測試電路及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111084023.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113533943A 公開（公告）日 2021-10-22
申請公布號 CN113533943A 申請公布日 2021-10-22
分類號 G01R31/28;G01R1/04 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魯翔;李煒 申請（專利權）人 深圳市愛普特微電子有限公司
代理機構 深圳市順天達專利商標代理有限公司 代理人 車大瑩;郭偉剛
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道西麗社區(qū)打石一路深圳國際創(chuàng)新谷八棟A座1702
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及用于芯片的輸入?yún)?shù)測試電路，測試電路包含在芯片中，包括多個串聯(lián)的測試單元，每個測試單元包括：第一端，連接封裝管腳或未封裝管腳；第二端，連接上一級測試單元的輸出；控制模塊，用于在初始化階段，將連接封裝管腳的測試單元設置為激活狀態(tài)，將連接未封裝管腳的測試單元設置為旁路狀態(tài)。本發(fā)明在初始化階段，將連接未封裝管腳的測試單元設置為旁路狀態(tài)，則在隨后的測試過程中，該測試單元被排除在測試鏈路之外，利用設置為激活狀態(tài)的測試單元，對封裝管腳進行測試。由此，通過增加一個初始化步驟，可以實現(xiàn)根據(jù)封裝形式，自動調整測試單元的結構，從而實現(xiàn)測試TREE的最小化。