缺陷分類方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111477092.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113888539B 公開（公告）日 2022-03-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN113888539B 申請(qǐng)公布日 2022-03-15
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/62（2017.01）I;G06T7/64（2017.01）I;G06T7/90（2017.01）I;G06V10/764（2022.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 李譚軍 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 藍(lán)思科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 任潔芳
地址 410311湖南省長(zhǎng)沙市瀏陽市生物醫(yī)藥園藍(lán)思科技股份有限公司
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種缺陷分類方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，涉及玻璃蓋板缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，解決了現(xiàn)有技術(shù)中電子產(chǎn)品的玻璃蓋板檢測(cè)行業(yè)的AOI設(shè)備不夠成熟，無法有效區(qū)分玻璃蓋板的臟污和真缺陷的技術(shù)問題。該方法包括：獲取光源對(duì)待檢測(cè)的玻璃蓋板照射得到的玻璃蓋板的亮場(chǎng)反射光圖像和暗場(chǎng)透射光圖像；分別提取亮場(chǎng)反射光圖像和暗場(chǎng)透射光圖像中的缺陷部位，得到亮場(chǎng)缺陷圖像和暗場(chǎng)缺陷圖像；合并亮場(chǎng)缺陷圖像和暗場(chǎng)缺陷圖像得到組合圖像，其中，組合圖像中包含有同一缺陷的亮場(chǎng)圖像和暗場(chǎng)圖像；根據(jù)臟污分類條件和組合圖像中缺陷部位的圖像特征對(duì)組合圖像中的缺陷進(jìn)行分類，以判定組合圖像中的缺陷是否為臟污。