鍍膜檢測設(shè)備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202122982376.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN216361784U | 公開(公告)日 | 2022-04-22 |
申請公布號 | CN216361784U | 申請公布日 | 2022-04-22 |
分類號 | G01N21/956(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 李譚軍;夏延源;田力 | 申請(專利權(quán))人 | 藍思科技股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京超凡志成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 趙洋 |
地址 | 410311湖南省長沙市瀏陽市生物醫(yī)藥園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請涉及檢測設(shè)備領(lǐng)域,尤其是涉及一種鍍膜檢測設(shè)備。鍍膜檢測設(shè)備包括載料機構(gòu)、圖像獲取機構(gòu)和噴霧器;載料機構(gòu)用于承載待檢工件;噴霧器設(shè)置于載料機構(gòu)的上料處,以向待檢工件的表面噴霧;圖像獲取機構(gòu)與載料機構(gòu)間隔設(shè)置,以獲取待檢工件的多個方位的霧層圖像數(shù)據(jù)。本申請?zhí)峁┑腻兡z測設(shè)備,通過噴霧器在待檢工件上噴涂霧層,再通過圖像獲取機構(gòu)獲取待檢工件表面的多個方位的霧層圖像數(shù)據(jù),便于更全方位的對玻璃制品的鍍膜表面進行觀測,為后續(xù)根據(jù)霧層圖像數(shù)據(jù)判斷待檢工件的鍍膜缺陷程度打下良好基礎(chǔ)。 |
