光纖光柵離層的測量裝置及測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110358089.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113188407A 公開（公告）日 2021-07-30
申請公布號 CN113188407A 申請公布日 2021-07-30
分類號 G01B5/06 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王冕;王銀磊;許康康;陳建 申請（專利權(quán)）人 安徽藍(lán)科光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京景聞知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 么立雙
地址 234000 安徽省宿州市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)朝霞路1265號中智光谷產(chǎn)業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種光纖光柵離層的測量裝置及測量方法，測量裝置用于檢測離層數(shù)據(jù)且包括：第一測量組件和第二測量組件。第一測量組件的一端與第一測量點固定，第一測量組件的另一端具有第一刻度示意部；第二測量組件的一端與第二測量點固定，第二測量組件的另一端具有第二刻度示意部；第一測量點和第二測量點位于離層上，當(dāng)離層變動時，第一測量點和第二測量點的相對位置變化，第一刻度示意部顯示的刻度值和第二刻度示意部顯示的刻度值用于計算離層的厚度。根據(jù)本發(fā)明的光纖光柵離層的測量裝置，通過設(shè)置第一刻度示意部和第二刻度示意部，可以通過第一刻度示意部顯示的刻度值和第二刻度示意部顯示的刻度值來計算離層的厚度，實現(xiàn)離層數(shù)據(jù)的可視化。