一種量子干涉探測芯片及其測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011299033.2 申請日 -
公開（公告）號 CN112539849B 公開（公告）日 2022-06-28
申請公布號 CN112539849B 申請公布日 2022-06-28
分類號 G01J11/00（2006.01）I;G01M11/02（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陶略;李楊;甘甫烷 申請（專利權(quán)）人 中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所
代理機構(gòu) 上海泰能知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 200050上海市長寧區(qū)長寧路865號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種量子干涉探測芯片，包括耦合光柵、輸入定向耦合器、光柵模式分束器、輸出定向耦合器和超導(dǎo)納米線單光子探測器，耦合光柵用于將片外由自發(fā)參量下轉(zhuǎn)換產(chǎn)生的糾纏光子對分別耦合進片上輸入定向耦合器的兩個輸入端口；輸入定向耦合器用于將輸入的糾纏光子對轉(zhuǎn)變成一個橫電基模光子和一個橫電二階模光子；光柵模式分束器對入射的橫電基模光和橫電二階模光都具有分光特性，實現(xiàn)模式上的雙光子干涉；輸出定向耦合器用于將模式干涉結(jié)束的一對同為橫電基?；蛘邫M電二階模的光子傳輸至某一輸出端口；超導(dǎo)納米線單光子探測器在低溫下吸收一對光子并轉(zhuǎn)換成電流信號被外圍測試設(shè)備探測。本發(fā)明能夠提高集成量子光路的密集度。