有效抑制氧化鎵晶體缺陷的生長裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202120460762.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN215668280U | 公開(公告)日 | 2022-01-28 |
申請公布號 | CN215668280U | 申請公布日 | 2022-01-28 |
分類號 | C30B15/00(2006.01)I;C30B28/10(2006.01)I;C30B29/16(2006.01)I;B01D46/12(2006.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 吳新功;吳義凱;田京生 | 申請(專利權)人 | 珠海經濟特區(qū)方源有限公司 |
代理機構 | 深圳至誠化育知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 劉英 |
地址 | 519031廣東省珠海市香洲區(qū)寶南路317號方源大廈四層401、402、403、404、405、407室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了有效抑制氧化鎵晶體缺陷的生長裝置,包括保溫筒、坩堝和保溫蓋,還包括避免雜質影響設備損壞的過濾結構、便于觀察晶體生長的觀察結構和保證晶體生長質量的抑制結構,所述保溫筒內部底端的中間位置處安裝有坩堝,且坩堝的內部設置有保護層,所述坩堝下方的保溫筒內部底端設置有熱電偶,且保溫筒內部的下端等角度安裝有加熱器,所述觀察結構設置在保溫筒一側的上端,所述保溫筒另一側的上端開設有換氣管,且過濾結構設置在換氣管的內部,所述保溫筒的頂端設置有保溫蓋。本實用新型通過設置可調節(jié)的保溫筒,使得后續(xù)抽真空速率更快,且保證保溫筒內部的密封性,避免外部氣體進入導致晶體的污染,進而降低晶體的質量。 |
