一種基于32位MCU芯片測試的智能探針卡
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110799908.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113504397A | 公開(公告)日 | 2021-10-15 |
申請公布號 | CN113504397A | 申請公布日 | 2021-10-15 |
分類號 | G01R1/073(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 彭勇;朱娟娟;劉天陽 | 申請(專利權)人 | 合肥市華達半導體有限公司 |
代理機構 | 合肥方舟知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 劉躍 |
地址 | 230000安徽省合肥市高新區(qū)望江西路860號合蕪蚌實驗區(qū)科技創(chuàng)新公共服務和應用技術研發(fā)中心B棟六樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于32位MCU芯片測試的智能探針卡,所述的微型電磁鐵從上至下固設于基板內(nèi)部中端,所述的繼電器固設于基板前端下側(cè),所述的視覺檢測器固設于基板前端左右兩側(cè),所述的探針從上至下滑動設于基板內(nèi)部左右兩側(cè),所述的擋板固設于探針外壁,所述的彈簧固設于擋板側(cè)壁,所述的絕緣套固設于探針內(nèi)側(cè)端口,所述的鐵芯固設于絕緣套內(nèi)部,首先探針能對芯片進行信號檢測,其次視覺檢測器能夠掃描所需檢測的芯片型號,最后根據(jù)檢測結果利于控制微型電磁鐵和繼電器,使得鐵芯帶動絕緣套聯(lián)動探針和擋板克服彈簧的回彈性進行滑動,通過上述,能夠根據(jù)所需檢測的芯片型號來匹配相應位置探針,滿足多個型號芯片的測試,同時也達到智能調(diào)控目的。 |
