一種基于32位MCU芯片測試的智能探針卡

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110799908.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113504397A 公開（公告）日 2021-10-15
申請公布號 CN113504397A 申請公布日 2021-10-15
分類號 G01R1/073（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 彭勇;朱娟娟;劉天陽 申請（專利權）人 合肥市華達半導體有限公司
代理機構 合肥方舟知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） 代理人 劉躍
地址 230000安徽省合肥市高新區(qū)望江西路860號合蕪蚌實驗區(qū)科技創(chuàng)新公共服務和應用技術研發(fā)中心B棟六樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于32位MCU芯片測試的智能探針卡，所述的微型電磁鐵從上至下固設于基板內(nèi)部中端，所述的繼電器固設于基板前端下側(cè)，所述的視覺檢測器固設于基板前端左右兩側(cè)，所述的探針從上至下滑動設于基板內(nèi)部左右兩側(cè)，所述的擋板固設于探針外壁，所述的彈簧固設于擋板側(cè)壁，所述的絕緣套固設于探針內(nèi)側(cè)端口，所述的鐵芯固設于絕緣套內(nèi)部，首先探針能對芯片進行信號檢測，其次視覺檢測器能夠掃描所需檢測的芯片型號，最后根據(jù)檢測結果利于控制微型電磁鐵和繼電器，使得鐵芯帶動絕緣套聯(lián)動探針和擋板克服彈簧的回彈性進行滑動，通過上述，能夠根據(jù)所需檢測的芯片型號來匹配相應位置探針，滿足多個型號芯片的測試，同時也達到智能調(diào)控目的。