一種適用于太赫茲安檢的透鏡輪廓面獲取方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811204518.1 申請日 -
公開（公告）號 CN109239917B 公開（公告）日 2021-07-13
申請公布號 CN109239917B 申請公布日 2021-07-13
分類號 G02B27/00;G02B3/08;H01Q15/02 分類 光學;
發(fā)明人 郝叢靜;侯培培;李世超;劉瑞強;賈渠 申請（專利權(quán)）人 北京航天易聯(lián)科技發(fā)展有限公司
代理機構(gòu) 北京潤澤恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 莎日娜
地址 100176 北京市大興區(qū)經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)鋒創(chuàng)科技園18號院24號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種用于太赫茲安檢成像系統(tǒng)的透鏡聚焦裝置，及獲取該透鏡輪廓面的方法和裝置，該方法包括：利用斯涅耳模型和等光程模型，根據(jù)不同角度的入射光線，獲取透鏡表面的多個特征點坐標，根據(jù)這些特征點坐標擬合出適合不同角度入射光的透鏡輪廓面。本發(fā)明通過偏離光軸較大角度的入射光線擬合出透鏡輪廓面，來實現(xiàn)雙焦透鏡對于大角度入射光也能起到良好的聚焦效果，進而可以應用到太赫茲安檢成像系統(tǒng)中，提高安檢成像分辨率。