一種復(fù)合薄膜的制備方法及復(fù)合薄膜
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110479316.3 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113193109A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-07-30 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113193109A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-30 |
分類(lèi)號(hào) | H01L41/312(2013.01)I;H01L41/33(2013.01)I | 分類(lèi) | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 劉桂銀;張秀全;劉阿龍;王金翠 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 濟(jì)南晶正電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 逯長(zhǎng)明;許偉群 |
地址 | 250100山東省濟(jì)南市高新區(qū)港興三路北段1號(hào)濟(jì)南藥谷研發(fā)平臺(tái)1號(hào)樓B1806 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N復(fù)合薄膜的制備方法及復(fù)合薄膜。其中,制備方法包括在原始基板的第一表面和第二表面上進(jìn)行離子注入,得到晶圓注入片;晶圓注入片依次包括第一薄膜層、第一注入層、余質(zhì)層、第二注入層和第二薄膜層;將第一薄膜層與第一支撐基板鍵合,將第二薄膜層與第二支撐基板鍵合,得到鍵合體;第二支撐基板的熱膨脹系數(shù)和第一支撐基板的熱膨脹系數(shù)相同;將鍵合體進(jìn)行加熱至目標(biāo)溫度并以目標(biāo)溫度保溫至目標(biāo)時(shí)間,以使第一薄膜層和第二薄膜層分別與余質(zhì)層分離,得到第一復(fù)合薄膜和第二復(fù)合薄膜。采用上述制備方法,避免鍵合體發(fā)生彎曲,復(fù)合薄膜處于平坦?fàn)顟B(tài),避免復(fù)合薄膜發(fā)生炸裂,提高復(fù)合薄膜的成品率,降低復(fù)合薄膜的生產(chǎn)成本。 |
