IGBT器件及其制作方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011554066.7 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN114678410A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-06-28 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114678410A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-06-28 |
分類(lèi)號(hào) | H01L29/06(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I | 分類(lèi) | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張景超;戚麗娜;井亞會(huì);林茂;俞義長(zhǎng);趙善麒 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 江蘇宏微科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 常州佰業(yè)騰飛專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | - |
地址 | 213022江蘇省常州市新北區(qū)華山中路18號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種IGBT器件及其制作方法,所述IGBT器件的溝槽形成于漂移區(qū)上部且貫穿阱區(qū)和源區(qū),所述溝槽內(nèi)設(shè)有第一多晶硅和第二多晶硅,所述第一多晶硅連接?xùn)艠O電極,所述第二多晶硅位于所述源區(qū)之下的空間內(nèi),且所述第二多晶硅與所述第一多晶硅、所述阱區(qū)、所述漂移區(qū)相隔離。本發(fā)明的IGBT器件柵極電容較小,因而開(kāi)通關(guān)斷速度快、損耗低。 |
